|
САПР БИС ПЛ (ЭНЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
схемотехника цифровых БИС (ЭНЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
сборочные операции в производстве БИС (МЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
физика и техника полупроводниковых микро- и наноструктур (ЭНЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
технология больших интегральных схем, микро- и наносистем (ЭНЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
диагностика наноматериалов и наноструктур (МЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
аналоговая электроника (МЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
перспективные технологические процессы для производства БИС, микро- и наносистем (МЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
оптоэлектронные микро- и наноструктуры (МЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |
|
сенсоры физических величин в микро- и наноэлектронике (МЭм) |
Электроника и наноэлектроника |
Базовая часть |
Твердотельной электроники |